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廣木 成治; 金子 一彦*; 村上 義夫
Vacuum, 46(12), p.1445 - 1447, 1995/00
被引用回数：7 パーセンタイル：40.68(Materials Science, Multidisciplinary)イオンの分離に高周波電圧のみを用いた四極子質量分析計(QMS)が、数keVのイオンの直接分析に適用可能かどうかを実験的に調べた。核融合装置の放電洗浄実験等では、数keV以下のイオンが壁に入射する。このため、放電洗浄機構の解明には数keVのイオンの分析が重要となる。しかしながら、イオンの分析に使われる通常のQMSで直接分析できるイオンのエネルギーは、高々数十eVであり、数keVのイオンの分析には複雑な減速電極が必要とされていた。これに対し本実験に用いたQMSは、マシュー線図の高次の安定領域を利用しており、減速電極は必要ない。このQMSを使って3kVに加速した空気のイオンを分析したところ、酸素(O
:32amu)のピークの半値幅分解能で約48が得られ、このQMSが数keVのイオンの直接分析に使える可能性があることを示した。
ion irradiation石田 巌*; 義家 敏正*; 桐谷 道雄*; 佐々木 茂美; 岩瀬 彰宏; 岩田 忠夫
Proc.XIth Int.Cong.on Electron Microscopy, p.1281 - 1282, 1986/00
純度99.999%の銅を電解研磨によりクサビ形薄膜試料とし、2枚の試料を交差して重ね合わせ、室温で、2MVV.d.G加速器を用いて500keVHeイオンを、照射強度2.8
10
ions/cm・S、照射量8.310
ions/cm・Sまで照射し、導入された点欠陥集合体を電子顕微鏡JEM-200CXを用いて観察した。その結果、マスクのない試料部分およびマスクの薄い試料部分では積層欠陥四面体が主に観察され、マスクの厚い試料部分では転移ループのみが観察された。これは、イオン入射面近傍とイオンの飛程の近傍とでは、欠陥集合体形成の機構が異なっていることを示している。
Br and 
Br up to 15 keV大久保 牧夫; 河原崎 雄紀; 水本 元治
Proc.Int.Conf.Nucl.Cross Section for Technol., p.173 - 176, 1980/00
臭素の分離アイソトープの共鳴パラメータを、原研リニアックの飛行時間スペクトロメータで測定した。透過率は、
Li-glass、捕獲率はMoxon-Rae検出器により測定した。共鳴パラメータ解析は、透過率については、面積法コード,捕獲率については、モンテカルロコードCAFITによった。Brの10keV以下の156本,またBrの15keV以下の100本の共鳴パラメータを得た。平均レベル間隔は45eV,及び70eVである。またS-波強度関数は、Br,Brそれぞれ(1.27
0.14)10
,(0.860.14)10である。Brの共鳴レベルに中間構造が、1.2,10,11.5,14keV付近に見出された。
Fの中性子断面積評価杉 暉夫; 西村 和明
JAERI-M 7253, 51 Pages, 1977/09
Fの高速中性子断面積の評価を、全断面積、(n,n)、(n,n')、(n,2n)、(n,
)、(n,
)、(n,d)、(n,t)、(n,n')、(n,n')、(n,n')、(n,n')、(n,
)反応について行なった。評価断面積は原則として実験データにもとづいて定めたが、次の場合には理論上のモデルを用いて計算した。すなわち8.5MeV以上の全断面積には光学モデル、非弾性錯乱断面積にはHauser-Feshbachの公式、(n,d)および(n,t)反応断面積にはPearlsteinの経験式、9MeV以上の(n,)、(n,)反応断面積と、(n,n')、(n,n')、(n,n')、(n,n')反応断面積には、Pearlsteinの経験式と、これをとり入れた統計モデルの式が用いられた。弾性散乱断面積の評価値は、評価された全断面積からすべての評価部分断面積を差引いて求めた。得られた評価断面積は、実験データと共にグラフに示し、また数値表にまとまられている。
